중고 장비

• 정밀 LCR 미터

  LCR 미터는 전자 부품의 인덕턴스 (L), 캐패시턴스 (C) 및 저항 (R)을 측정하는 데 사용되는 전자 테스트 장비 유형입니다. [1]이 계측기의 간단한 버전에서 임피던스 는 내부적으로 측정되었으며 해당 커패시턴스 또는 인덕턴스 값으로 표시되도록 변환되었습니다.

• 정밀 임피던스 분석기

  임피던스 분석기는 테스트 주파수의 함수로 복잡한 전기 임피던스를 측정하는 데 사용되는 전자 테스트 장비 유형입니다.

• 4 채널 고 저항 미터

  전자 장치에서 높은 임피던스는 회로 (노드)의 한 지점이 해당 지점에서 적용된 전압의 단위당 비교적 적은 양의 전류를 허용 함을 의미합니다.

• 정밀 피코 전류계

  피코 전류계는 매우 낮은 전류 (피코 앰프)를 측정하며 매우 민감한 측정에 사용됩니다. 이 미터는 저 전류를 측정 할 때 종종 디지털 멀티 미터 (DMM)가 제공 할 수있는 것보다 훨씬 많은 것을 요구합니다.

• 반도체 분석기

  반도체 파라미터 분석기 (장치 분석기)는 여러 측정 및 분석 기능을 통합하여 전류 전압 (IV) 및 커패시턴스 측정 (CV (커패시턴스-전압)을 수행하는 테스트 기기 임)

• 전원 장치 분석기

  커브 트레이서는 전력 분석기로 대체된 버기 채찍의 길을 가고 있습니다. 이 짧은 비디오에서 앨런 워즈워스(Alan Wadsworth)가 설명한 것처럼 전력 분석기는 측정을 위해 장치에 최대 15kA 및 10kV를 적용할 수 있으며 광대역 갭 반도체를 분류하는 데 특히 유용합니다.

• 기본 스펙트럼 분석기

  스펙트럼 분석기는 계측기의 전체 주파수 범위 내에서 입력 신호의 크기와 주파수를 측정합니다. 기본 사용은 알려진 신호와 알려지지 않은 신호의 스펙트럼 파워를 측정하는 것입니다.

• 신호 분석기

  신호 분석기는 계측기의 IF 대역폭 내에서 단일 주파수에서 입력 신호의 크기와 위상을 측정하는 계측기입니다. 디지털 기술을 사용하여 전기 신호에 의해 전달되는 유용한 정보를 추출합니다.

• 기능 생성기

  함수 발생기는 일반적으로 광범위한 주파수에서 다양한 유형의 전기 파형을 생성하는 데 사용되는 전자 테스트 장비 또는 소프트웨어의 한 조각입니다. 함수 생성기에서 생성되는 가장 일반적인 파형 중 일부는 사각파입니다.

• 파형 발생기

  AWG (임의 파형 발생기)는 전기 파형을 생성하는 데 사용되는 전자 테스트 장비입니다. 이 파형은 반복적이거나 단일 샷 (한 번만) 일 수 있으며이 경우 어떤 종류의 트리거링 소스가 필요합니다 (내부 또는 외부).

• 펄스 발생기

  펄스 발생기는 전자 회로 또는 직사각형 펄스를 생성하는 데 사용되는 전자 테스트 장비입니다. 펄스 발생기는 주로 디지털 회로 작업에 사용되며 관련 함수 발생기는 주로 아날로그 회로에 사용됩니다.

• 신호 발생기

  신호 발생기는 진폭, 주파수 및 파형의 속성이 설정된 전자 신호를 생성하는 전자 장치 클래스 중 하나입니다. 이러한 생성 된 신호는 전자 측정을위한 자극으로 사용되며 일반적으로 설계에 사용됩니다