LCR 미터는 전자 부품의 인덕턴스 (L), 캐패시턴스 (C) 및 저항 (R)을 측정하는 데 사용되는 전자 테스트 장비 유형입니다. [1]이 계측기의 간단한 버전에서 임피던스 는 내부적으로 측정되었으며 해당 커패시턴스 또는 인덕턴스 값으로 표시되도록 변환되었습니다. 테스트중인 커패시터 또는 인덕터 장치에 임피던스의 중요한 저항 성분이없는 경우 판독 값은 상당히 정확해야합니다. 고급 설계는 실제 인덕턴스 또는 커패시턴스와 커패시터의 등가 직렬 저항 및 유도 성 부품의 Q 계수를 측정합니다.
일반적으로 테스트 대상 장치 (DUT)에는 AC 전압 소스가 적용됩니다. 미터는 DUT를 통한 전압과 전류를 측정합니다. 이 비율에서 미터는 임피던스의 크기를 결정할 수 있습니다. 전압과 전류 사이의 위상 각도 고급 계측기에서 측정됩니다. DUT의 임피던스, 등가 커패시턴스 또는 인덕턴스 및 저항과 함께 계산하여 표시 할 수 있습니다. 미터는이 두 요소에 대해 병렬 또는 직렬 모델을 가정해야합니다. 이상적인 커패시터에는 커패시턴스 이외의 특성이 없지만 물리적 인 이상적인 커패시터는 없습니다. 모든 실제 커패시터는 인덕턴스가 적고 저항이 적으며 일부 결함으로 인해 비 효율성이 발생합니다. 이들은 이상적인 커패시터와 직렬로 또는 병렬로 인덕턴스 또는 저항으로 볼 수 있습니다. 인덕터도 마찬가지입니다. 저항조차도 구성 방식의 결과로 인덕턴스 (특히 와이어 권선 유형 인 경우)와 정전 용량을 가질 수 있습니다. 가장 유용한 가정이며 일반적으로 채택되는 것은 LR 측정에 직렬로 요소가 있고 (인덕터 0010010 # 39; 코일의 경우와 동일) CR 측정에 병렬 소자 (캐패시터 0010010 # 39; 0010010 # 39; 플레이트 0010010 # 39; ). 누설은 커패시터 플레이트를 가로 질러, 즉 직렬이기 때문에 누설은 커패시터의 특수한 경우입니다.
영구 자석 기계에서 회 전자 위치에 대한 인덕턴스 변화를 측정하기 위해 LCR 미터를 사용할 수도 있습니다. (그러나 일부 LCR 미터는 영구 자석 모터의 로터를 회전시켜 생성 된 EMF, 특히 전자 부품 측정을 위해 생성 된 EMF에 의해 손상되므로주의를 기울여야합니다.)
핸드 헬드 LCR 미터는 일반적으로 상단 엔드 미터에 대해 100 Hz, 120 Hz, 1 kHz, 10 kHz 및 100 kHz의 선택 가능한 테스트 주파수를 갖습니다. 테스트 주파수가 변함에 따라 회로가 주어진 구성 요소 (인덕터 또는 커패시터)에 대해 더 민감하거나 적기 때문에 디스플레이 해상도 및 측정 범위 기능은 일반적으로 적용된 테스트 주파수에 따라 변경됩니다.
벤치 탑 LCR 미터는 때로는 100 kHz 이상의 테스트 주파수를 선택할 수 있습니다. 여기에는 종종 AC 측정 신호에 DC 전압 또는 전류를 중첩시키는 옵션이 포함됩니다. 저가형 미터는 이러한 DC 전압 또는 전류를 외부 적으로 공급할 수있는 반면 고급형 장치는 내부적으로 공급할 수 있습니다. 또한 벤치 탑 미터는 일반적으로 특수 픽스처 (즉, 켈빈 배선, 즉 4 선 연결)를 사용하여 SMD 구성 요소, 에어 코어 코일 또는 변압기를 측정 할 수 있습니다.
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