반도체 분석기

반도체 파라미터 분석기 (장치 분석기)는 여러 측정 및 분석 기능을 통합하여 전류 전압 (IV) 및 커패시턴스 측정 (CV (정전 용량-전압), C-f (정전 용량 주파수) 및 C- t (정전 용량 시간)) 정확하게 측정하고 반도체 파라 메트릭 테스트를위한 상자에서 빠르고 쉽게 분석합니다. 반도체 파라 메트릭 테스트는 반도체 장치의 특성 및 제조 공정을 결정하기위한 기본 측정입니다. 파라 메트릭 테스트에서는 일반적으로 fA (femto amp) 분해능까지의 낮은 전류 측정 및 1 MHz까지의 CV 측정을 포함한 IV 측정이 수행되며 주요 특성 / 파라미터가 분석됩니다. 반도체 파라미터 분석기는 원래 이러한 반도체 평가를 수행하도록 설계되었지만 현재 우수한 성능, 강력한 기능 및 사용 편의성으로 인해 다양한 재료, 장치 및 전자 제품의 IV 및 CV 특성 분석에 널리 사용됩니다.

반도체 매개 변수 분석기 사용의 이점

반도체 매개 변수 분석기는 특성화 작업에 더 나은 성능, 유용성 및 효율성을 제공합니다. 파라미터 분석기는 여러 측정 리소스를 상자에 통합하고 전원 공급 장치, 전압 측정기, 전류 측정기, LCR 측정기, 스위칭 매트릭스 등과 같은 여러 계측기를 수집 및 통합하지 않고도 IV 및 CV 측정을 쉽게 수행 할 수 있습니다. 매개 변수 분석기는 SMU (Source / Measure Unit)입니다. SMU는 전압 / 전류 소스 및 전압 / 전류 미터의 기능을 단일 모듈로 결합한 측정 모듈입니다. 소스와 측정 회로가 밀접하게 통합되어 있기 때문에 다양한 독립적 인 계측기를 사용하여 동일한 측정을 수행하는 것보다 훨씬 적은 정확도로 더 높은 정확도와 높은 해상도를 달성 할 수 있습니다.

또한 매개 변수 분석기는 분석 기능을 제공하며 외부 PC 없이도 화면에서 측정 결과를 대화식으로 신속하게 확인 및 분석 할 수 있습니다. 반도체 파라미터 분석기의 다양성은 탐색 적 분석에서 자동화 된 테스트에 이르기까지 다양한 측정 상황에 사용될 수 있습니다.

IV 특성을 빠르게 얻으십시오	단순화 된 SMU 회로도

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