제품 개요
키 틀리 4200-SCS
Keithley 4200-SCS 반도체 특성 분석 시스템은 실험실 등급 DC 및 펄스 장치 특성 분석, 실시간 플로팅 및 고정밀 및 서브 펨-암페어 분해능으로 분석을 수행합니다. Keithley 4200-SCS는 Windows 운영 체제 및 대용량 저장 장치가있는 완전한 임베디드 PC를 포함하여 완전히 통합 된 특성화 시스템에서 사용할 수있는 최첨단 기능을 제공합니다. 자체 문서화, 포인트 앤 클릭 인터페이스로 데이터 처리 속도가 빨라지고 데이터 처리 프로세스가 간소화되므로 사용자는 결과를 더 빨리 분석 할 수 있습니다. 추가 기능은 다양한 신뢰성 테스트에 적합한 응력 측정 기능을 지원할뿐만 아니라 LCR 미터 지원으로 정밀 측정 및 고해상도를 제공합니다.
Keithley 4200 시스템의 특징은 다음과 같습니다.
● 직관적 인 포인트 앤 클릭 Windows® 기반 환경
● 고유 한 원격 프리 앰프는 SMU의 해상도를 0으로 확장합니다. 1 fA
● CV 기기로 DC IV만큼 쉽게 CV 측정 가능
고급 반도체 테스트를위한 펄스 및 펄스 IV 기능
● 스코프 카드는 통합 된 스코프 및 펄스 측정 기능을 제공합니다
● 자체 포함 된 PC는 빠른 테스트 설정, 강력한 데이터 분석, 그래프 및 인쇄, 테스트 결과의 온보드 대용량 저장 기능을 제공합니다.
● 독창적 인 브라우저 스타일의 Project Navigator는 장치 유형별로 테스트를 구성하고 여러 테스트에 액세스 할 수 있으며 테스트 시퀀싱 및 루핑 제어를 제공합니다.
● 5 개의 JEDEC 호환 샘플 테스트를 포함하여 포인트 앤 클릭 안정성 테스트를위한 내장 스트레스 / 측정, 루핑 및 데이터 분석
● 다양한 LCR 미터, Keithley 스위치 매트릭스 구성 및 Keithley Series 3400 및 Agilent 81110 펄스 발생기 모두에 대한 통합 지원
● 주요 분석 프로브를위한 소프트웨어 드라이버 포함
● 2 X 4 2 10-SMU-2 개의 추가 4 2 10-SMU 고전력 SMU 카드
● 4 X 4 200-SMU-4 개의 4 200-SMU 중 출력 SMU 카드
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