제품 개요

Keysight B 1530 WGFMU (Waveform Generator / Fast Measurement Unit Module)는 초고속 IV, 펄스 IV 및 과도 IV 측정에 적합하며 R 0010010 amp에 대한 요구가 점차 커지고 있습니다. 차세대 반도체, 장치 및 재료의 D. 키 사이트 B 1530 키 사이트 B 1500 반도체 매개 변수 분석기 0010010 nbsp와 함께 사용되는 WGFMU (파형 발생기 / 고속 측정 장치); 시간 의존적 측정에 가장 적합한 고유 한 측정 모듈입니다. 일반적으로 펄스 발생기와 오실로스코프의 조합으로 수행되었지만 잔류 저항의 전압 강하로 인한로드 라인 효과는 정확한 측정에 문제가되었습니다. B 1530 WGFMU는 임의 파형 생성 및 동시 고속 측정 기능을 통합하고 Keysight 0010010 # 39의 고유 한 동적 SMU 기술로 펄스 발생기보다 정확하고 민감한 측정이 가능합니다. 로드 라인 효과가없는 기반 솔루션. 초고속 NBTI 및 RTN 측정 등과 같은 최첨단 초고속 IV, 펄스 IV 및 과도 IV 어플리케이션을 수행하는 데 매우 강력하고 유용한 솔루션입니다.

초고속 IV, 펄스 IV 및 과도 IV 측정의 감도는 또 다른 과제입니다. 흐르는 전류는 펄스베이스와 펄스 피크 사이의 순서가 다를 수 있으며 일부 장치는 적용된 파형에 따라 급격한 임피던스 변화를 보여줍니다. 키 사이트 B 1530 A에는 모든 지점에서 측정 범위를 지정할 수있는 기능이 있으며 범위는 임의 파형 출력에서 동적으로 변경됩니다. 따라서 키 사이트 B 1530 A로 정확한 측정을 위해 최상의 범위와 해상도를 활용할 수 있습니다.

B 1530 A WGFMU의 고급 측정 기능을 통해 기존 측정 기기로는 어려운 측정이 가능합니다. B 1530 A WGFMU는 빠른 측정과 높은 감도로 인해 µs 미만의 특성 분석이 가능합니다. 예를 들어, 고급 반도체 신뢰성의 주요 과제 인 초고속 NBTI / PBTI 및 RTN 측정과 같은 최첨단 애플리케이션에 사용할 수 있습니다. 키 사이트 B 1500 A는 어려운 애플리케이션을 빠르게 시작할 수 있도록 즉시 사용 가능한 애플리케이션 소프트웨어를 제공합니다.

Keysight B 1530 A WGFMU의 주요 사양 및 기능은 다음과 같습니다.

로드 라인 효과가없는 유일한 진정한 펄스 / 과도 측정 솔루션

● 임의 파형 생성 및 고속 IV 측정 기능이 통합되었습니다

● 키 사이트 고유의 동적 SMU 기술로로드 라인 효과없이 정확한 펄스 IV 측정

● NBTI / PBTI, RTN (Random Telegraph Signal Noise) 등과 같은 초고속 IV (전류 전압), 펄스 IV 및 과도 IV 측정 솔루션

측정 기능

● 10 ns 프로그래밍 가능 분해능 (10 V 피크-피크 출력)으로 DC 출력 및 임의 파형 생성

● 고속 전압 / 전류 측정 (200 MSa / s, 5 ns 샘플링 속도)

● 임의 파형 출력에서 다이나믹 레인지 기능으로 넓은 전류 범위 사용 가능

● 듀얼 채널 출력

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