제품 개요
HP 4275 LCR 미터는 멀티 스팟 주파수, 연속 가변 테스트 신호 레벨, 멀티 파라미터 측정 및 기본 정확도 0. 1 %, 4 1 / 2 또는 5 1 / 2 (고해상도 모드) 디지털 해상도. 이를 통해 4275 A는 1 0 {0}에서 1 0 kH ~ 1 0 MHz의 주파수 범위에서 대부분의 전자 재료 및 장치에 대한 다양한 측정 요구 사항을 충족 할 수 있습니다. 스팟 주파수.
● 측정 : L / C-D / Q / ESR / GR-X / B / L / CZ-?
● 시험 주파수 : 10 kHz- 10 MHz
● 테스트 신호 레벨 : 1 mV- 1 V rms
● 0. 1 % 기본 정확도
테스트 매개 변수 :
● 인덕턴스 : 100. 00 nH ~ 10. 00 H (정확도 0, 1 %)
● 정전 용량 : 1. 0000 pF ~ 1 00.00 µF (정확도 0, 1 %).
● 저항, 임피던스 : 1. 0000 Ohm ~ 1 0.000 MOhm
● Q- 요인 : 0, 01 에서 9900
● 컨덕턴스 : 1. 0000 µS ~ 1 0.00 S (정확도 0, 1 %)
● 위상 각도 : 0 ~ ± 180 도
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