Agilent / Keysight N 4903 J-BERT는 완벽한 지터 허용 오차를 가진 고성능 직렬 BERT이며 직렬 I / O가있는 칩 및 트랜시버 모듈의 특성 및 스트레스를받는 R&앰프 및 검증 팀에 이상적입니다. 최대 7 Gb / s, 12. 5 Gb / s 또는 14. 2 Gb / s. 패턴 발생기는 지터가 현저히 낮고 전환 시간이 매우 빠르기 때문에 정확한 신호를 생성하고 정확한 테스트 실행을 제공하는 깨끗한 신호를 생성합니다.
Agilent / Keysight N 4903 J-BERT를 사용하면 N 4903 A가 차동 I / O, 가변 전압 레벨의 직렬 버스 표준에 최적으로 맞도록 설계되어 테스트 설정이 간단 해집니다. 대부분의 출력, 내장 지터 및 ISI, 패턴 시퀀서, 기준 클록 출력, 조정 가능 CDR, 패턴 캡처 및 비트 복구 모드로 클록없는 패턴과 비 결정적 패턴을 분석합니다. SER / FER 분석은 재 시간 루프백을 사용하여 장치의 지터 허용 오차 테스트를 허용합니다. 독립적 인 패턴 메모리와 PRBS가있는 두 번째 데이터 출력은 누화 테스트를 위해 또는 OOB 타이밍 테스트 또는 3 레벨 신호 또는 신호 강조 해제를 위해 외부에서 채널을 추가 할 때 공격자 채널로 사용할 수 있습니다. 임베디드 및 포워드 클록 장치에 대해 가장 완벽한 지터 허용 오차 테스트를 제공합니다.
특징 및 사양 :
● 데이터 속도 150 Mb / s ~ 7 Gb / s 또는 12. 5 Gb / s 패턴 생성기 및 오류 탐지기. 패턴 생성기의 데이터 속도를 14로 확장하는 옵션. 2 Gb / s.
●> 0. {{1}} UI 보정, 호환 및 통합 지터 주입 : RJ, RJ-LF, RJ-HF, PJ 1, PJ 2, SJ, BUJ, ISI, 정현파 간섭, 삼각형 및 임의 SSC 및 잔류 SSC
● 실제 상태에서 SATA / SAS 및 USB 3 수신기를 특성화하기위한 임의 SSC 프로파일 및 확장 SSC 범위
● 우수한 신호 성능 및 감도
● 출력 신호 성능 향상
● RJ / DJ 분리, 아이 다이어그램, 아이 마스크, BER 윤곽선, 자동 지터 허용 오차, 패턴 캡처, 프레임 오류율 (FER) 또는 심볼 오류율 (SER) 코딩 및 재 시간 데이터 스트림을 사용하여 BER, BERT 스캔, TJ 측정
● 독립적 인 PRBS와 120 블록 패턴 시퀀서를 사용한 패턴으로 조정 가능한 2 개의 데이터 출력
● 트리거 및 보조 데이터 출력의 가변 출력 레벨
● 모든 옵션은 개조 가능하며 N 4903에서 업그레이드 가능
● 튜너 블 및 호환 루프 대역폭으로 내장 클록 데이터 복구
● 전달 된 시계 장치의 테스트를 지원합니다.
듀티 사이클이 가변적 인 반 시계
클록 및 데이터에 대한 지터
클록과 데이터 사이의 지터 지연
● PCIe 2. 0 호환 지터 주입 :
oLF-RJ 및 HF-RJ
이중 톤 PJ
광경 SSC
전기 유휴
● 16 x 14까지 패턴 생성기의 데이터 속도가 확장 된 FC 테스트. 2 Gb / s
● 최대 300 MHz의 넓은 PJ 범위
● 패턴 생성기 주요 특성 :
o 7 및 12. {{2}} 오류 감지기 (옵션 G 07 및 G 13)가없는 Gb / s 패턴 생성기 14. 2 Gb / s (옵션 D 14)
o 데이터, 보조 데이터, 클록 및 트리거에 대한 가변 출력 레벨을 갖는 차동 출력
oLowest 내장 지터 – 800 fs rms
o 전환 시간< 20="">
가변 듀티 사이클이있는 반 속도 클록 (옵션 003)
최대 120 개의 블록과 카운트 된 루프가있는 oPattern 시퀀서
o 두 번째 출력 채널 (옵션 002)
o SJ, 2 톤 PJ, RJ / sRJ, BUJ, ISI, SI를 사용한 교정 및 통합 지터 주입 (옵션 J 10, J 20)
oSSC 및 잔여 SSC (옵션 J 11)
자동화 된 지터 허용 오차 특성화 스위프는 610 ps 또는 220 ps 지연 라인을 사용하여 SJ 및 PJ를 사용합니다.
o 외부 소스에서 지터를 주입하기위한 고정밀 지연 제어 입력
데이터 출력의 전기 유휴 상태
● 오류 감지기 주요 특성 :
오늘날의 포트와 일치하는 oTrue 차동 입력
최대 12 MHz까지 조정 가능한 루프 대역폭을 갖춘 내장형 CDR
o 샘플링 포인트의 자동 정렬
알 수없는 데이터 트래픽에 대한 oBit 복구 모드 (옵션 AO 1)
코딩 및 재 시간 데이터의 oSER / FER 분석 (옵션 A 02)
재순환 루프 테스트를위한 oBurst 모드
oBER 결과 및 측정 제품군
BER 윤곽선이있는 빠른 아이 다이어그램 및 마스크
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